测量、测量仪、位移测量装置、尺寸测量装置及生产工艺技术
0203-0001、 使用集成图像阵列和高密度偏振器和，或相移阵列的改进的干涉仪
摘要、 用于干涉仪的集成成像元件产生至少一个干涉图像，此图像包括在图像具有高空间频率的图形中具有不同相对相移交错的多干涉部分。该交错干涉图形是至少部分由在集成成像元件中所使用的高密度相对延迟阵列的图形来确定的。在各种实施例中，多干涉部分是在整个检测器器件的表面上是以类似棋盘图形而交错的。因此，可以减少或消除在产生适用于各种相对相位的分离交错图像的各种干涉仪中所呈现出的各种非共模误差。
0021-0002、 一种二维测长单元
摘要、 一种二维测长单元，包括位置检测装置和信号处理电路，其特征在于，所述位置检测装置包括与待测的X-Y平面固连在一起的正交衍射光栅和位于同一光路上的反射镜、激光器、直角棱镜、光学干涉放大系统和光电接收器。本发明采用正交衍射光栅作为二维位移测量传感器，使测量系统具有阿贝尔误差极小，分辨率极高的特点。正交衍射光栅与被测二维平面固连在一起，随被测二维平面一起移动，通过检测单元内光学系统、光电接收器件与其后的计数细分电路来准确测量相互正交的X、Y两个方向的位移。总之，该测长单元可广泛用于半导体与超精密加工的光刻技术、微制造、微机电系统、表面形貌测量及纳米级坐标测量等方面，其工作范围大、测量精度高。
0144-0003、 带有游标和耦合标尺的感应式位置传感器
感应式位置传感器包括具有一系列以节距T间隔开的导电回路的标尺(10)，和具有形成一系列以节距T间隔开的交错的发夹形圈的导体的游标(20)，所述施感游标导体(21至23；42，44)和感应游标导体(31至33；41，43)排成两个分离的交错导体组，在施感导体和第二组的感应导体之间的耦合仅经所述标尺回路发生。这种传感器简单、耐用、精确，对外部电磁场不敏感，且容许游标和标尺之间的错位。
0043-0004、 用于进行车轮校准的方法和系统
摘要、 本发明提供了一种方法和系统，所述方法和系统用于提供一种改进的车轮外倾调节技术。所述方法包括下述步骤：将转向轮转动到第一位置其中转向轮或者为前束或者为后束，然后将转向轮转动到第二位置其中如果转向轮在第一位置中为前束，则在该位置中为后束，如果转向轮在第一位置中为后束，则在该位置中为前束。测量转向轮从第一位置转动到第二位置期间的前束角和外倾角。通过零前束下的外倾角和规定的外倾角之间的差确定任何前束角下的车轮外倾调节量。
0040-0005、 投影栅线测量物体三维表面形状的方法和装置
摘要、 本发明公开了投影栅线测量三维表面形状的方法和装置。包括投射标志点和光栅栅线的投影装置接收投射到物体表面上的标志点投影点和光栅栅线的观测装置以及处理数据的计算机；通过投影、观测装置的三维移动改变工作距离以测量不同的物体，并使光轴在物体表面上的标志点投影点交叉以确定零级条纹的位置根据投影装置内光栅的中心点、观测装置内的标志点以及投射到物体上的标志点投影点建立任意三角形，以分别确定投影以及观测物距、像距；自动调焦以使观测装置对被测物体上由投影装置投射的光栅栅线清晰成像；观测装置内的摄像机分别记录相移后的栅线图、计算机计算出物体的三维表面形状。本发明实现了三维测量物体表面形状的全场高精度、高速度绝对测量。
0105-0006、 用于机动车辆车轮对准的自校准三维机器测量系统
摘要、 将公开以下技术提供一种具有多个装置的系统，其中多个装置中的一个装置相对于多个装置中的另一个装置的位置是自校准的。在一个实施例中，该系统是用于对准机动车辆车轮的五摄影机对准器。在这个实施例中，对准器包括第一摄影机仓和第二摄影机仓，其中第一摄影机仓包含两个对准摄影机和一个校准摄影机，第二摄影机仓包含另外两个对准摄影机和一个校准标的。
0120-0007、 电子束长度测量装置和长度测量方法
摘要、 本发明提供了一种可以高精度地对长度测量对象上的预定部分实施长度测量的电子束长度测量装置和长度测量方法。本发明提供的一种电子束长度测量装置可以具有形成有包括基准部分的基准尺寸图样的基准基板(13)；搭载基准基板(13)和长度测量对象(12)用的显微镜载物台(14)；使电子束在包含基准基板(13)上的基准部分的预定位置处实施扫描，依据二次电子变化状况对电子束照射至基准部分处的照射时间实施检测，进而依据该时间和基准部分的长度对时间与长度间的对应关系实施检测的校正控制部(64)；以及使电子束在长度测量对象(12)上实施扫描，依据二次电子变化状况对电子束照射至长度测量对象(12)上预定部分处的照射时间实施检测，进而依据对应关系对长度测量对象上预定部分的长度实施检测的长度测量控制部(58)。
0132-0008、 磁性零件远程分布式网络化数显尺寸测量系统
摘要、 本发明公开了一种磁性零件远程分布式网络化数显尺寸测量系统，属于磁性零件的尺寸测量装置。该系统至少包括一套测量装置每套装置由数显测量尺、数显尺，RS-232C转换器、RS-232C，485转换器、485长线传输网络、RS-485，232C转换器及共用多串口卡和计算机组成。其特征在于数显尺，RS-232C转换器主要由放大器构成的测量信号电平转换电路和单片机构成的RS-232C形成及输出电路组成；RS-232C，485转换器和RS-485，232C转换器主要由RS-232C转接口、由MAX233构成的RS-232C接口电路，由75176构成的RS485收发器电路组成。本发明的优点在于，测量成本低，实现远程分布式网络化数显测量、过程抗干扰性强、可靠性高，用于磁性零件产品的监测和检测，能保证产品质量。
0097-0009、 图像测量仪、其照明装置及照明装置控制方法和程序
摘要、 本发明涉及对与每个发光光源的附加电流值对应的照度及色度进行测定，利用对应于发光光源照度变化产生的色度变化和色合成理论公式，计算出用指示值指示的照度对具有规定色度的合成照明进行合成时所需的各发光光源的发光强度的混合比(ST33)，用混合比计算出产生指示值指示的照度时各发光光源的照度(ST34)，用这种照度使各发光光源发光，从发光光源的特性中读取所需的附加电流值(ST35)。
0198-0010、 检测装置
摘要、 本发明涉及一种适用于检测移动物体位置及姿势的栅尺及利用该栅尺进行移动物体检测的装置栅尺由在两个不同方向上按已知函数变化的角度栅格组成，该角度栅格及与该角度栅格有相对移动的角度传感器的组合构成了能精确检测移动物体位置及姿势的检测装置。
0050-0011、 分级干涉条纹细分装置
109-0012、 坐标检测装置
044-0013、 测量车轮磨胎半径的方法和设备
0181-0014、 仿人多自由度立体双目视觉装置
190-0015、 测量液晶单元间隙的方法
064-0016、 和定位系统一起使用的标的系统
0177-0017、 用于高精度位置测量的改进线性变量差接变压器
0197-0018、 旋转检测装置
041-0019、 激光对中装置
027-0020、 长程面形仪
0168-0021、 测量物体三维表面轮廊的方法及系统
0012-0022、 测高柱和调节测高柱的方法
117-0023、 用于检验非圆容器的装置和方法
116-0024、 测量具有直线外形物体的光学仪器
0016-0025、 一种无限精度测量卡尺
0054-0026、 一种用于干涉测量单元的非线性误差补偿装置
102-0027、 电磁标记法及用该方法制造的磁性编码器
0005-0028、 测定器
0086-0029、 孔径尺寸测量装置及其孔径尺寸测量方法
001-0030、 利用全息图和凹形表面测量非球面的装置和方法
100-0031、 激光光斑有效面积测试装置
171-0032、 基于长周期光纤光栅的扭曲绝对测量方法及装置
069-0033、 镜框形状检测装置
172-0034、 一种柱面光栅轴角干涉式编码器
0008-0035、 平面参数的测量方法及新型车轮定位系统
0193-0036、 有检测功能深孔扩孔用移动式阴极及仪表
0060-0037、 可变精度激光电子二维倾角测量方法及其装置
200-0038、 纸张尺寸检测装置以及图象形成装置
082-0039、 基于键合技术的集成光学干涉仪
0017-0040、 智能型电子卡规
0062-0041、 两件式定位头
0085-0042、 光接收，发射复合单元、其制造方法以及位移探测装置
071-0043、 多量程粗糙度尺
0121-0044、 线性执行机构
0183-0045、 轴瓦厚度自动检测分选机的机械系统装置
033-0046、 光学式编码器和编码器用标尺
0067-0047、 变面积电容式数字串行输出型角位移传感器
0074-0048、 沉孔深度测量治具及测量方法
113-0049、 在用光可记录的信息层中含有Co-酞菁配合物的光学数据存储器
0205-0050、 聚合物光纤特性参数测试仪及其测试方法
180-0051、 一种折转光管光轴平行性的检验方法
093-0052、 三维曲线形状检测装置和检测方法
103-0053、 尺寸测量柱和在其中输入指令以转换测量模式的方法
020-0054、 多功能激光衍射测量仪及其测量方法
047-0055、 节流阀开度检测装置
130-0056、 低相干性干涉条纹的分析方法
156-0057、 组合式光电传感装置
119-0058、 光纤光栅锚索长期工作状态的监测方法及装置
031-0059、 用于卷尺的皮尺锁定装置
011-0060、 具有带反射器的光学调节装置的校正设备
0014-0061、 利用共轭光路量测二维位移量的方法
007-0062、 光学式编码器和编码器用标尺
0032-0063、 画面测量的坐标定位方法
176-0064、 应变传感器及其制造方法
206-0065、 微孔自动测量方法及装置
028-0066、 膜厚度测量设备与膜厚度测量方法
096-0067、 马赫-陈德尔干涉仪的快速调整方法
199-0068、 三维坐标测定方法
192-0069、 金属体识别装置及金属体识别方法
057-0070、 高精度双F－P角位移测量仪
0010-0071、 用于监测铁路或电车轨道线上铁轨的设备
0025-0072、 节流阀开度传感器
0195-0073、 测量机
0094-0074、 纤维束的连接部分检测传感器以及使用该传感器的控制方法
207-0075、 一种实现光电轴角编码器零位调整的电子学方法
128-0076、 实现自准直仪快速找准的激光找准器及找准方法
122-0077、 整体型线性位移测量装置、端部夹具及固定方法
046-0078、 监视装置
201-0079、 介质分发机的介质厚度检测装置
080-0080、 对偏移具有低灵敏度的光学位移传感装置
042-0081、 双轴向调变影像放大倍率的形状测定装置
209-0082、 确定非对称形状的电路结构的方法
063-0083、 具有分开的反向反射器的共焦成像系统
0106-0084、 光纤承载用螺旋套管的沟检查装置
034-0085、 物体表面的检查方法和检查系统
0030-0086、 一种位移信号器
0178-0087、 用于评估变形和应力的方法和装置
175-0088、 静电容式传感器
0091-0089、 记录材料的种类判别装置、方法以及图像形成装置
184-0090、 空间曲线型微细管道局部几何性质的检测方法及系统
0036-0091、 等矢高系数比较法数字化无损检测大曲率半径检测系统
0146-0092、 测有机膜和高分子膜厚度的前处理方法
013-0093、 变间距电容式非接触型角位移传感器
0142-0094、 不可见像的光学成像方法及光学成像装置
035-0095、 用于坐标输入的超声波长度测量设备和方法
108-0096、 带有色散补偿的光信号波长交错复用器和解复用器装置
150-0097、 检测和校正多激光束不对准
0110-0098、 自校准、多相机机器视觉测量系统
0095-0099、 接触式自动测量冰、雪厚度变化过程的方法
073-0100、 测量仪、编码器及编码器的制造方法
143-0101、 多面体检查输送器和多面体检查设备
0135-0102、 一种三坐标测量仪
0004-0103、 用于定位机车的具有机车位置调节机构的3D机械视觉测量系统
0155-0104、 可在绝对位置传感器中使用的改进的定标结构和方法
189-0105、 工件的内径尺寸测定方法及装置
009-0106、 确定一多层薄层结构的厚度的方法
202-0107、 基于电容的位置传感器
0053-0108、 角度调整设备
0123-0109、 测定和调整活塞发动机上死点位置的方法和装置
125-0110、 利用侦测磁通量校正相位的方法
194-0111、 监测往复式活塞运动轨道的监视器
0204-0112、 光学位移传感器
0045-0113、 三维监视装置
137-0114、 一种车辆超高监测预警装置
065-0115、 一种曲率半径测量方法及专用装置
164-0116、 干涉测位仪
0029-0117、 绝对位置测量设备
0157-0118、 抗光强漂移的正交差动式位移-电流比较仪
0170-0119、 利用频域法进行差分测量的精确重构方法
059-0120、 长度测量装置
088-0121、 组合角尺
0052-0122、 空气主轴系统工件圆度测控方法及装置
162-0123、 滑动轴套壁厚均匀性检测装置
149-0124、 钢强化结构用的可嵌入的腐蚀监视器
0151-0125、 失真测量方法和曝光设备
0141-0126、 确定三维物体表面坐标和颜色的方法及装置
160-0127、 用于校正激光三维测量器的方法及装置
107-0128、 测量输送带上准备热处理的料层的表面高度的方法
079-0129、 大梁校正仪的激光测量系统
0111-0130、 卷尺的磁性端头及使用方法
019-0131、 双频激光合成波长干涉仪
0131-0132、 位置侦测装置
076-0133、 圆柱度的分离测量方法及其装置
136-0134、 基于测量相位或时间的调焦法位移测头及其测量仪
0148-0135、 在三维成像中通过单元深度检测对三维物体特征应用强度梯度的数字化装置
159-0136、 时序变频条纹照明可重配置动态三维数字传感装置及过程
0127-0137、 化学机械研磨过程中测量非金属层厚度的方法
018-0138、 栅式位移传感器
0138-0139、 伺服比较式偏振光位移传感器系统
0056-0140、 一种测量三维物体轮廓的设备和方法
187-0141、 一种平面镜摆动姿态的检测装置及其方法
169-0142、 利用时域法进行差分测量的精确重构方法
129-0143、 外引式应变测量方法
211-0144、 位移传感器
0166-0145、 套管偏心量测定装置
133-0146、 轴承凸出量测量装置
185-0147、 旋转角度检测装置及其旋转盘
0024-0148、 偏振光分束检偏法测量物体的角位移
0158-0149、 光学位置检测装置
154-0150、 可用于绝对位置转换器的改进的二维标尺结构与方法
099-0151、 侧面照明的三维边缘定位方法
061-0152、 一种激光多自由度测量系统与方法
161-0153、 数字测量头
0049-0154、 光栅干涉型位移测量装置
089-0155、 具有磁阻电极的测量装置及其测量方法
147-0156、 用于建造工业设备的模块式系统
0078-0157、 一种摄像机标定方法及其实施装置
140-0158、 一种多截面合成三维形面测量方法
084-0159、 靶装置及光检测装置
101-0160、 光纤传感器的通用、高速波导波长扫描解调方法及装置
002-0161、 位置检测装置与方法
165-0162、 光学伺服比较式大量程绝对位置传感器系统
0152-0163、 位置检测装置
118-0164、 微小尺寸测量装置
208-0165、 物体的照明装置及其照明方法
186-0166、 冶炼炉渣层厚度测量传感器
0070-0167、 可自行卷出及收回的卷尺盒
0153-0168、 多点构架固定单元型线性位移测定设备及其固定方法
051-0169、 使用有开孔的带式标尺的感应电流位置传感器
0072-0170、 完整检测钻头的方法
058-0171、 防水型电子数显卡尺
0092-0172、 一种测量纺织纤维长度的方法
003-0173、 用于测量塑料容器壁厚的方法和设备
0068-0174、 谐波测角仪
0145-0175、 样品倾斜的测量方法
163-0176、 一种齿轮误差测量方法及其装置
191-0177、 物体感测
0023-0178、 高倍全息位相差放大装置
006-0179、 检测机电式直线传动装置实时长度的装置
114-0180、 船用推进装置中的驱动轴系的安装位置检测方法和检测装置以及该安装检测位置检...
0182-0181、 轴角编码器与主体仪器之间直接的联接机构
0055-0182、 实时检测纤维集合体平面产品厚度和纤维取向度的方法
124-0183、 利用垂直断层成像的检查方法
015-0184、 在线监控冲压过程的方法及系统
0188-0185、 位置检测方法、位置检测装置、及印刷电路板的定位方法
126-0186、 实现现有目视光学测量仪的数字化读数的装置
075-0187、 测量磊晶层厚度的方法
090-0188、 位移信息检测装置
098-0189、 位移传感器
0083-0190、 实现锯齿形栅线投影及相位移动栅线投影的方法和装置
112-0191、 局部轨迹间距的测量装置和方法
048-0192、 节流阀开度传感器
0037-0193、 线宽测定方法和线宽测定装置
066-0194、 变面积电容式脉宽调制输出型角位移传感器
0179-0195、 拓扑学和运动测量工具
0026-0196、 旋转角度检测装置
038-0197、 检测准直仪的装置
104-0198、 用于测量导电体的壁厚的方法
115-0199、 曲轴安装位置的检测方法和检测装置以及其位置检测用程序
0139-0200、 线阵光电传感器层析扫描三维测量方法及其装置
081-0201、 磁位置探测器
0196-0202、 遥测遥控垂直位移计
0039-0203、 三坐标测量方法及其测量装置
210-0204、 通过接触方式对薄壁管的部件层厚度进行高频超声测量
0167-0205、 同轴记录位相差放大全息装置
077-0206、 应变片深海绝缘方法及装置
087-0207、 曲轴弯曲变形的测量方法
174-0208、 车轮定位测量方法和设备
0022-0209、 一种宽带光源的无色差频移及外差干涉信号产生装置
134-0210、 记录介质判别方法及记录装置
173-0211、 移动式表面形状测定装置
212-0212、 通过迭加多个回波周期测量弱反射的子层厚度的超声方法BR
购买以上《测量、测量仪、位移测量装置、尺寸测量装置及生产工艺技术》生产工艺技术资全套200元,含邮费,本市五大区可办理货到付款,咨询手机号也是微信号:15542181913 13889286189【点这进入购买帮助】
摘要、 用于干涉仪的集成成像元件产生至少一个干涉图像，此图像包括在图像具有高空间频率的图形中具有不同相对相移交错的多干涉部分。该交错干涉图形是至少部分由在集成成像元件中所使用的高密度相对延迟阵列的图形来确定的。在各种实施例中，多干涉部分是在整个检测器器件的表面上是以类似棋盘图形而交错的。因此，可以减少或消除在产生适用于各种相对相位的分离交错图像的各种干涉仪中所呈现出的各种非共模误差。
0021-0002、 一种二维测长单元
摘要、 一种二维测长单元，包括位置检测装置和信号处理电路，其特征在于，所述位置检测装置包括与待测的X-Y平面固连在一起的正交衍射光栅和位于同一光路上的反射镜、激光器、直角棱镜、光学干涉放大系统和光电接收器。本发明采用正交衍射光栅作为二维位移测量传感器，使测量系统具有阿贝尔误差极小，分辨率极高的特点。正交衍射光栅与被测二维平面固连在一起，随被测二维平面一起移动，通过检测单元内光学系统、光电接收器件与其后的计数细分电路来准确测量相互正交的X、Y两个方向的位移。总之，该测长单元可广泛用于半导体与超精密加工的光刻技术、微制造、微机电系统、表面形貌测量及纳米级坐标测量等方面，其工作范围大、测量精度高。
0144-0003、 带有游标和耦合标尺的感应式位置传感器
感应式位置传感器包括具有一系列以节距T间隔开的导电回路的标尺(10)，和具有形成一系列以节距T间隔开的交错的发夹形圈的导体的游标(20)，所述施感游标导体(21至23；42，44)和感应游标导体(31至33；41，43)排成两个分离的交错导体组，在施感导体和第二组的感应导体之间的耦合仅经所述标尺回路发生。这种传感器简单、耐用、精确，对外部电磁场不敏感，且容许游标和标尺之间的错位。
0043-0004、 用于进行车轮校准的方法和系统
摘要、 本发明提供了一种方法和系统，所述方法和系统用于提供一种改进的车轮外倾调节技术。所述方法包括下述步骤：将转向轮转动到第一位置其中转向轮或者为前束或者为后束，然后将转向轮转动到第二位置其中如果转向轮在第一位置中为前束，则在该位置中为后束，如果转向轮在第一位置中为后束，则在该位置中为前束。测量转向轮从第一位置转动到第二位置期间的前束角和外倾角。通过零前束下的外倾角和规定的外倾角之间的差确定任何前束角下的车轮外倾调节量。
0040-0005、 投影栅线测量物体三维表面形状的方法和装置
摘要、 本发明公开了投影栅线测量三维表面形状的方法和装置。包括投射标志点和光栅栅线的投影装置接收投射到物体表面上的标志点投影点和光栅栅线的观测装置以及处理数据的计算机；通过投影、观测装置的三维移动改变工作距离以测量不同的物体，并使光轴在物体表面上的标志点投影点交叉以确定零级条纹的位置根据投影装置内光栅的中心点、观测装置内的标志点以及投射到物体上的标志点投影点建立任意三角形，以分别确定投影以及观测物距、像距；自动调焦以使观测装置对被测物体上由投影装置投射的光栅栅线清晰成像；观测装置内的摄像机分别记录相移后的栅线图、计算机计算出物体的三维表面形状。本发明实现了三维测量物体表面形状的全场高精度、高速度绝对测量。
0105-0006、 用于机动车辆车轮对准的自校准三维机器测量系统
摘要、 将公开以下技术提供一种具有多个装置的系统，其中多个装置中的一个装置相对于多个装置中的另一个装置的位置是自校准的。在一个实施例中，该系统是用于对准机动车辆车轮的五摄影机对准器。在这个实施例中，对准器包括第一摄影机仓和第二摄影机仓，其中第一摄影机仓包含两个对准摄影机和一个校准摄影机，第二摄影机仓包含另外两个对准摄影机和一个校准标的。
0120-0007、 电子束长度测量装置和长度测量方法
摘要、 本发明提供了一种可以高精度地对长度测量对象上的预定部分实施长度测量的电子束长度测量装置和长度测量方法。本发明提供的一种电子束长度测量装置可以具有形成有包括基准部分的基准尺寸图样的基准基板(13)；搭载基准基板(13)和长度测量对象(12)用的显微镜载物台(14)；使电子束在包含基准基板(13)上的基准部分的预定位置处实施扫描，依据二次电子变化状况对电子束照射至基准部分处的照射时间实施检测，进而依据该时间和基准部分的长度对时间与长度间的对应关系实施检测的校正控制部(64)；以及使电子束在长度测量对象(12)上实施扫描，依据二次电子变化状况对电子束照射至长度测量对象(12)上预定部分处的照射时间实施检测，进而依据对应关系对长度测量对象上预定部分的长度实施检测的长度测量控制部(58)。
0132-0008、 磁性零件远程分布式网络化数显尺寸测量系统
摘要、 本发明公开了一种磁性零件远程分布式网络化数显尺寸测量系统，属于磁性零件的尺寸测量装置。该系统至少包括一套测量装置每套装置由数显测量尺、数显尺，RS-232C转换器、RS-232C，485转换器、485长线传输网络、RS-485，232C转换器及共用多串口卡和计算机组成。其特征在于数显尺，RS-232C转换器主要由放大器构成的测量信号电平转换电路和单片机构成的RS-232C形成及输出电路组成；RS-232C，485转换器和RS-485，232C转换器主要由RS-232C转接口、由MAX233构成的RS-232C接口电路，由75176构成的RS485收发器电路组成。本发明的优点在于，测量成本低，实现远程分布式网络化数显测量、过程抗干扰性强、可靠性高，用于磁性零件产品的监测和检测，能保证产品质量。
0097-0009、 图像测量仪、其照明装置及照明装置控制方法和程序
摘要、 本发明涉及对与每个发光光源的附加电流值对应的照度及色度进行测定，利用对应于发光光源照度变化产生的色度变化和色合成理论公式，计算出用指示值指示的照度对具有规定色度的合成照明进行合成时所需的各发光光源的发光强度的混合比(ST33)，用混合比计算出产生指示值指示的照度时各发光光源的照度(ST34)，用这种照度使各发光光源发光，从发光光源的特性中读取所需的附加电流值(ST35)。
0198-0010、 检测装置
摘要、 本发明涉及一种适用于检测移动物体位置及姿势的栅尺及利用该栅尺进行移动物体检测的装置栅尺由在两个不同方向上按已知函数变化的角度栅格组成，该角度栅格及与该角度栅格有相对移动的角度传感器的组合构成了能精确检测移动物体位置及姿势的检测装置。
0050-0011、 分级干涉条纹细分装置
109-0012、 坐标检测装置
044-0013、 测量车轮磨胎半径的方法和设备
0181-0014、 仿人多自由度立体双目视觉装置
190-0015、 测量液晶单元间隙的方法
064-0016、 和定位系统一起使用的标的系统
0177-0017、 用于高精度位置测量的改进线性变量差接变压器
0197-0018、 旋转检测装置
041-0019、 激光对中装置
027-0020、 长程面形仪
0168-0021、 测量物体三维表面轮廊的方法及系统
0012-0022、 测高柱和调节测高柱的方法
117-0023、 用于检验非圆容器的装置和方法
116-0024、 测量具有直线外形物体的光学仪器
0016-0025、 一种无限精度测量卡尺
0054-0026、 一种用于干涉测量单元的非线性误差补偿装置
102-0027、 电磁标记法及用该方法制造的磁性编码器
0005-0028、 测定器
0086-0029、 孔径尺寸测量装置及其孔径尺寸测量方法
001-0030、 利用全息图和凹形表面测量非球面的装置和方法
100-0031、 激光光斑有效面积测试装置
171-0032、 基于长周期光纤光栅的扭曲绝对测量方法及装置
069-0033、 镜框形状检测装置
172-0034、 一种柱面光栅轴角干涉式编码器
0008-0035、 平面参数的测量方法及新型车轮定位系统
0193-0036、 有检测功能深孔扩孔用移动式阴极及仪表
0060-0037、 可变精度激光电子二维倾角测量方法及其装置
200-0038、 纸张尺寸检测装置以及图象形成装置
082-0039、 基于键合技术的集成光学干涉仪
0017-0040、 智能型电子卡规
0062-0041、 两件式定位头
0085-0042、 光接收，发射复合单元、其制造方法以及位移探测装置
071-0043、 多量程粗糙度尺
0121-0044、 线性执行机构
0183-0045、 轴瓦厚度自动检测分选机的机械系统装置
033-0046、 光学式编码器和编码器用标尺
0067-0047、 变面积电容式数字串行输出型角位移传感器
0074-0048、 沉孔深度测量治具及测量方法
113-0049、 在用光可记录的信息层中含有Co-酞菁配合物的光学数据存储器
0205-0050、 聚合物光纤特性参数测试仪及其测试方法
180-0051、 一种折转光管光轴平行性的检验方法
093-0052、 三维曲线形状检测装置和检测方法
103-0053、 尺寸测量柱和在其中输入指令以转换测量模式的方法
020-0054、 多功能激光衍射测量仪及其测量方法
047-0055、 节流阀开度检测装置
130-0056、 低相干性干涉条纹的分析方法
156-0057、 组合式光电传感装置
119-0058、 光纤光栅锚索长期工作状态的监测方法及装置
031-0059、 用于卷尺的皮尺锁定装置
011-0060、 具有带反射器的光学调节装置的校正设备
0014-0061、 利用共轭光路量测二维位移量的方法
007-0062、 光学式编码器和编码器用标尺
0032-0063、 画面测量的坐标定位方法
176-0064、 应变传感器及其制造方法
206-0065、 微孔自动测量方法及装置
028-0066、 膜厚度测量设备与膜厚度测量方法
096-0067、 马赫-陈德尔干涉仪的快速调整方法
199-0068、 三维坐标测定方法
192-0069、 金属体识别装置及金属体识别方法
057-0070、 高精度双F－P角位移测量仪
0010-0071、 用于监测铁路或电车轨道线上铁轨的设备
0025-0072、 节流阀开度传感器
0195-0073、 测量机
0094-0074、 纤维束的连接部分检测传感器以及使用该传感器的控制方法
207-0075、 一种实现光电轴角编码器零位调整的电子学方法
128-0076、 实现自准直仪快速找准的激光找准器及找准方法
122-0077、 整体型线性位移测量装置、端部夹具及固定方法
046-0078、 监视装置
201-0079、 介质分发机的介质厚度检测装置
080-0080、 对偏移具有低灵敏度的光学位移传感装置
042-0081、 双轴向调变影像放大倍率的形状测定装置
209-0082、 确定非对称形状的电路结构的方法
063-0083、 具有分开的反向反射器的共焦成像系统
0106-0084、 光纤承载用螺旋套管的沟检查装置
034-0085、 物体表面的检查方法和检查系统
0030-0086、 一种位移信号器
0178-0087、 用于评估变形和应力的方法和装置
175-0088、 静电容式传感器
0091-0089、 记录材料的种类判别装置、方法以及图像形成装置
184-0090、 空间曲线型微细管道局部几何性质的检测方法及系统
0036-0091、 等矢高系数比较法数字化无损检测大曲率半径检测系统
0146-0092、 测有机膜和高分子膜厚度的前处理方法
013-0093、 变间距电容式非接触型角位移传感器
0142-0094、 不可见像的光学成像方法及光学成像装置
035-0095、 用于坐标输入的超声波长度测量设备和方法
108-0096、 带有色散补偿的光信号波长交错复用器和解复用器装置
150-0097、 检测和校正多激光束不对准
0110-0098、 自校准、多相机机器视觉测量系统
0095-0099、 接触式自动测量冰、雪厚度变化过程的方法
073-0100、 测量仪、编码器及编码器的制造方法
143-0101、 多面体检查输送器和多面体检查设备
0135-0102、 一种三坐标测量仪
0004-0103、 用于定位机车的具有机车位置调节机构的3D机械视觉测量系统
0155-0104、 可在绝对位置传感器中使用的改进的定标结构和方法
189-0105、 工件的内径尺寸测定方法及装置
009-0106、 确定一多层薄层结构的厚度的方法
202-0107、 基于电容的位置传感器
0053-0108、 角度调整设备
0123-0109、 测定和调整活塞发动机上死点位置的方法和装置
125-0110、 利用侦测磁通量校正相位的方法
194-0111、 监测往复式活塞运动轨道的监视器
0204-0112、 光学位移传感器
0045-0113、 三维监视装置
137-0114、 一种车辆超高监测预警装置
065-0115、 一种曲率半径测量方法及专用装置
164-0116、 干涉测位仪
0029-0117、 绝对位置测量设备
0157-0118、 抗光强漂移的正交差动式位移-电流比较仪
0170-0119、 利用频域法进行差分测量的精确重构方法
059-0120、 长度测量装置
088-0121、 组合角尺
0052-0122、 空气主轴系统工件圆度测控方法及装置
162-0123、 滑动轴套壁厚均匀性检测装置
149-0124、 钢强化结构用的可嵌入的腐蚀监视器
0151-0125、 失真测量方法和曝光设备
0141-0126、 确定三维物体表面坐标和颜色的方法及装置
160-0127、 用于校正激光三维测量器的方法及装置
107-0128、 测量输送带上准备热处理的料层的表面高度的方法
079-0129、 大梁校正仪的激光测量系统
0111-0130、 卷尺的磁性端头及使用方法
019-0131、 双频激光合成波长干涉仪
0131-0132、 位置侦测装置
076-0133、 圆柱度的分离测量方法及其装置
136-0134、 基于测量相位或时间的调焦法位移测头及其测量仪
0148-0135、 在三维成像中通过单元深度检测对三维物体特征应用强度梯度的数字化装置
159-0136、 时序变频条纹照明可重配置动态三维数字传感装置及过程
0127-0137、 化学机械研磨过程中测量非金属层厚度的方法
018-0138、 栅式位移传感器
0138-0139、 伺服比较式偏振光位移传感器系统
0056-0140、 一种测量三维物体轮廓的设备和方法
187-0141、 一种平面镜摆动姿态的检测装置及其方法
169-0142、 利用时域法进行差分测量的精确重构方法
129-0143、 外引式应变测量方法
211-0144、 位移传感器
0166-0145、 套管偏心量测定装置
133-0146、 轴承凸出量测量装置
185-0147、 旋转角度检测装置及其旋转盘
0024-0148、 偏振光分束检偏法测量物体的角位移
0158-0149、 光学位置检测装置
154-0150、 可用于绝对位置转换器的改进的二维标尺结构与方法
099-0151、 侧面照明的三维边缘定位方法
061-0152、 一种激光多自由度测量系统与方法
161-0153、 数字测量头
0049-0154、 光栅干涉型位移测量装置
089-0155、 具有磁阻电极的测量装置及其测量方法
147-0156、 用于建造工业设备的模块式系统
0078-0157、 一种摄像机标定方法及其实施装置
140-0158、 一种多截面合成三维形面测量方法
084-0159、 靶装置及光检测装置
101-0160、 光纤传感器的通用、高速波导波长扫描解调方法及装置
002-0161、 位置检测装置与方法
165-0162、 光学伺服比较式大量程绝对位置传感器系统
0152-0163、 位置检测装置
118-0164、 微小尺寸测量装置
208-0165、 物体的照明装置及其照明方法
186-0166、 冶炼炉渣层厚度测量传感器
0070-0167、 可自行卷出及收回的卷尺盒
0153-0168、 多点构架固定单元型线性位移测定设备及其固定方法
051-0169、 使用有开孔的带式标尺的感应电流位置传感器
0072-0170、 完整检测钻头的方法
058-0171、 防水型电子数显卡尺
0092-0172、 一种测量纺织纤维长度的方法
003-0173、 用于测量塑料容器壁厚的方法和设备
0068-0174、 谐波测角仪
0145-0175、 样品倾斜的测量方法
163-0176、 一种齿轮误差测量方法及其装置
191-0177、 物体感测
0023-0178、 高倍全息位相差放大装置
006-0179、 检测机电式直线传动装置实时长度的装置
114-0180、 船用推进装置中的驱动轴系的安装位置检测方法和检测装置以及该安装检测位置检...
0182-0181、 轴角编码器与主体仪器之间直接的联接机构
0055-0182、 实时检测纤维集合体平面产品厚度和纤维取向度的方法
124-0183、 利用垂直断层成像的检查方法
015-0184、 在线监控冲压过程的方法及系统
0188-0185、 位置检测方法、位置检测装置、及印刷电路板的定位方法
126-0186、 实现现有目视光学测量仪的数字化读数的装置
075-0187、 测量磊晶层厚度的方法
090-0188、 位移信息检测装置
098-0189、 位移传感器
0083-0190、 实现锯齿形栅线投影及相位移动栅线投影的方法和装置
112-0191、 局部轨迹间距的测量装置和方法
048-0192、 节流阀开度传感器
0037-0193、 线宽测定方法和线宽测定装置
066-0194、 变面积电容式脉宽调制输出型角位移传感器
0179-0195、 拓扑学和运动测量工具
0026-0196、 旋转角度检测装置
038-0197、 检测准直仪的装置
104-0198、 用于测量导电体的壁厚的方法
115-0199、 曲轴安装位置的检测方法和检测装置以及其位置检测用程序
0139-0200、 线阵光电传感器层析扫描三维测量方法及其装置
081-0201、 磁位置探测器
0196-0202、 遥测遥控垂直位移计
0039-0203、 三坐标测量方法及其测量装置
210-0204、 通过接触方式对薄壁管的部件层厚度进行高频超声测量
0167-0205、 同轴记录位相差放大全息装置
077-0206、 应变片深海绝缘方法及装置
087-0207、 曲轴弯曲变形的测量方法
174-0208、 车轮定位测量方法和设备
0022-0209、 一种宽带光源的无色差频移及外差干涉信号产生装置
134-0210、 记录介质判别方法及记录装置
173-0211、 移动式表面形状测定装置
212-0212、 通过迭加多个回波周期测量弱反射的子层厚度的超声方法BR
购买以上《测量、测量仪、位移测量装置、尺寸测量装置及生产工艺技术》生产工艺技术资全套200元,含邮费,本市五大区可办理货到付款,咨询手机号也是微信号:15542181913 13889286189【点这进入购买帮助】
