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测试卡探针技术、测试卡的探针工艺
作者:技术顾问  文章来源:百创科技  点击数  更新时间:2024/2/27 17:17:26  文章录入:admin  责任编辑:admin

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0007-0003、探针元件及其测试卡
0015-0004、高速测试卡
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0010-0006、测试卡的探针结构
0004-0007、一种晶片测试卡的过电流保护方法及相应的晶片测试系统
0017-0008、测试卡的探针结构
0016-0009、集成电路测试卡
0013-0010、集成电路测试卡
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0011-0012、集成电路测试卡
0014-0013、集成电路测试卡
0002-0014、晶圆级测试卡的探针构造及其制造方法
0012-0015、集成电路测试卡
0001-0016、探针测试卡的探针包覆装置
0008-0017、集成电路测试卡
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