测量、测量仪、测量铸模、测量铁路及生产工艺技术
0122-0001、 扫描装置和方法
摘要、 一种扫描装置其包括把两维光学图形投影到扫描物体表面（３５）上的器件（４０）和一个两维光电检测器（３４’），该扫描装置被装到手持扫描器件中，该扫描装置输出物体重叠表面区的三维坐标数据文件。通过计算机中的适当转动和平移，可以将由这些扫描文件确定的表面部分记录下来，所述的转动和平移是根据陀螺仪（５１）和加速度计（５０）的输出确定的，或是通过表面部分的数学处理例如共同特征的检测和定位来确定。
0028-0002、 确定物体的几何位置的方法和装置
摘要、 为了确定可移动体的几何位置、位移或角度，沿着至少一个方向具有较大的几何延伸部分的分压（分布）元件提供有交流电压，而一个电位测量探头根据所要检测的位移、角或位置而保持在不与分压（分布）元件相接触的一个距离上加以引导，从而使电位测量探头借助电容耦合并根据它所处的相对位置来检测交流电压幅度分布图的不同交流电压幅度，该电位测量探头与通过电容作用在耦合电极上的电势耦合探头相连接电 位测量探头检测的交流电压幅度值从该耦合电极传送以供测定。
0049-0003、 非接触测量透明材料制成的被测物厚度的设备 ，P style="LINE-HEIGHT: 150%"，本发明涉及非接触测量透明材料制成的被测物厚度的设备。从第一、第二光源射出的两束相对射线，经过带有反射和折射界面的透明材料体构成的第一、第二束分光器和一个转向器，斜射于被测物表面上。在被测物正反面上反射的第一、第二射束偶又经转向器和第一、第二分光器转向第一、第二探测器。为了使结构紧凑和实现高精度测量，第一、第二分光器由转向设备上朝向光源的光入射面构成。
0199-0004、 具有延伸成像深度的莫阿干涉测量系统和方法
摘要、 一种实现以延伸的图像观察深度获得全视场表面轮廓的莫阿干涉测量系统和方法。莫阿干涉测量系统包括一投影系统，它由光源、成像透镜和方波光栅图案构成。如此构成成像透镜来滤除通过方波光栅图案的较高级光线，从而在所需的表面上投射一类似于正弦波的图案。莫阿干涉测量系统还包括一观察系统，它由成像透镜、子光栅和摄像机构成。子光栅最好是可通过相应于基准表面记录光栅图案而生产的定制光栅。摄像机能观察延伸的图像深度内任何位置的图像并分析莫阿条纹。确定测试部件和基准表面之间的偏差提供了一种部件检测系统。
0170-0005、 物体高度测量设备
摘要、 物体高度测量设备有两个声光模块，用于以取决于调频的预定折射率折射从光发射器发射出来的光，从而使光沿物体的Ｘ轴和Ｙ轴被投射；同时还有分别与前面两个声光模块的信号同步的另外两个声光模块，从而使从物体反射的光聚焦在光接收装置上。物体高度的改变就依据聚焦在光接收装置上的光点的位置与光接收装置的中心之间的距离变化而被测量出来。
0200-0006、 拱坝三维变形全自动追迹监测方法
摘要、 拱坝三维变形全自动追迹监测方法：１．在各坝段上设被监测点测量各坝段上所设监测点相对该点位移；２．测量本平台相对上一个平台垂直激光束轴方向位移，同时向下一个平台发射激光测量光束；３．用自动安平技术保证相邻平台间在沿测量激光轴的铅垂面内无相对转动，用自动光电定向技术保证相邻平台间在水平面内无相对转动；４．设基准平台为０号，由矢量迭加法求出ｎ相对０的位移导出各坝段的位移。
0110-0007、 用以测量纤维条厚度和，或不匀率的装置
摘要、 本发明涉及一用以测量纤维条厚度和／或不匀率的装置它设有一纤维条的压缩部件和一测量部件，该测量部件具有一个压缩后纤维条用的沟槽形的引导通道和一个机械地探测纤维条并可相对引导通道调节的探测机构。探测机构在同纤维条接触的范围内同样被设计成沟槽形，并构成一个由固定部件和可调部件构成的引导通道，可调部件装在可偏转支架上，通过测量上述支架的调节量而可测量纤维条的厚度和／或不匀率。
0009-0008、 虚拟双测量仪断面轮廓测量系统
摘要、 一种用于测量由可改变带材运动方向的可逆式轧机加工的带材的断面轮廓的断面轮廓测量系统，包括：一测量带材厚度并产生厚度信号的单个厚度测量仪；一与该测量仪联接的推动装置用于可控制地沿带材横向推动测量仪，以便在带材一次经过测量仪时测量仪测量沿着一段带材横越带材宽度上不同点处的带材厚度，且在带材另一次经过测量仪时把测量仪保持在静止位置以便测量仪测量沿着所述的一段带材纵线上不同点处的带材厚度；一将不同点处的带材厚度测定值转换成断面轮廓数据的装置该转换装置与测量仪相连来接收厚度信号。
0006-0009、 位置检测环链码传感方法及编码条带
摘要、 提供一种检测转动圆轴角度位置、线性运动规则形状物体移动位置的直接数字式传感方法及关键部件一环链码编码条带。该方法是以一种新的位置信源编码—环链码为基础，以环链码编码条带和与之匹配的探测、激发及传感信号装置实现位置或位移检测的。用于位置检测的环链码条带其制作加工简单、安装使用方便，所形成的检测传感方法过程简捷、数据直接可靠、抗干扰性能好、数据便于远传、适用面宽、体积较小。
0073-0010、 一种实时测量运动体位移姿态角的装置
摘要、 一种实时测量运动物体位移和姿态角的装置包括一组或多组光源及光源驱动器、一组或多组测量单元和一个信息处理单元，其特点在于：测量单元由选择光束或光面的裁光板和光照位移传感器组成，利用光照位移传感器对透过裁光板的光照位移量进行测量，信息处理单元根据光照位移量求解不同的光面方程，算出光源在空间的相对坐标，进而求出运动物体三个方向的位移量和三个姿态角。本发明具有实时性好、测量范围大、测量精度高、抗干扰能力强和结构重量轻的优点。
0088-0011、 用于测量物体尺寸的装置和测量物体尺寸时用的度盘
0099-0012、 轴状部件的表面缺陷检查方法与装置
0065-0013、 电缆测距方法及设备
0166-0014、 热轧精轧卷取测宽仪抗干扰方法及装置
0074-0015、 二轴倾斜传感器
0196-0016、 双列圆锥滚子轴承轴向游隙测量方法P style="LINE-HEIGHT: 150%"0134-0017、 光纤耦合干涉式位移传感器
0116-0018、 用于检测显示图像的投影系统的投影角的装置
0068-0019、 卷尺的卷绕装置
0153-0020、 三维形状测量装置
0113-0021、 旋转斜细光束的薄透明层厚度的干涉测量方法及其装置
0076-0022、 利用大的等效波长测量物体表面轮廓的方法及系统
0133-0023、 工作台垂直位移测量装置
0175-0024、 汽车前轮定位主销后倾角测量仪
0103-0025、 图形测定装置
0102-0026、 大直径轴盘类工件直径的测量方法及装置
0048-0027、 一种用于绝对值位移传感器的编码盘(尺)设计方法
0207-0028、 绝对距离测量的波长扫描干涉系统及其信号处理方法
0106-0029、 物体观测设备和方法
0195-0030、 扫描器
0034-0031、 用于测量物体尺寸的装置和测量物体尺寸时用的度盘
0093-0032、 矩阵传感器及其制造方法
0018-0033、 非接触式三维轮廓实时测量方法和系统
0089-0034、 汽车电子控制的自动变速器的位移传感器
0032-0035、 一种凸轮轴综合参数检测仪
0047-0036、 非接触式铁路车轮试验装置及方法P style="LINE-HEIGHT: 150%"0156-0037、 用于动态负载连续监测的方法和装置
0109-0038、 感应电流位置传感器
0096-0039、 原位传感器件及其方法
0069-0040、 具有校正功能的图形测量装置
0148-0041、 光学式测定装置
0138-0042、 千分尺
0014-0043、 减少电容位置传感器对污染物敏感程度的电介质覆盖层
0107-0044、 胎纹深度测量装置
0204-0045、 测量位移的方法及位移传感器
0016-0046、 绝对位置检测装置及其误差补偿方法
0211-0047、 减少偏差的高精度感应电流位置传感器
0045-0048、 激光光盘式角位移传感器
0059-0049、 电容式位移测量装置
0126-0050、 电路板的识别装置和识别方法
0208-0051、 应变检测装置
0002-0052、 用于测量长度和角度的仪器
0040-0053、 比例刻度尺
0082-0054、 光栅位移测量装置
0060-0055、 光学膜厚测量方法、成膜方法和半导体激光器制造方法
0180-0056、 磁性编码器 ，P style="LINE-HEIGHT: 150%"0031-0057、 光学测量线卷的卷表面的方法
0115-0058、 双向全角度微机测量装置和方法
0188-0059、 内径测量卡尺
0056-0060、 扩缩比例尺
0033-0061、 带状量具
0083-0062、 长度测量器
0206-0063、 用于测定涂覆在感应式借方卡上的付款单元中的薄膜厚度和图形对正的装置和方法
0035-0064、 矿用窄轨车辆连接链拉伸变形量的测定方法
0037-0065、 用于借助电容检测来确定物体的相应几何位置的方法和装置
0026-0066、 测量透明材料厚度的方法和装置
0053-0067、 测量偏心转动件的方法和装置
0194-0068、 偏振光直线位移检测方法和传感器
0171-0069、 一种超长位移传感器
0197-0070、 用于表面检查的装置和方法
0120-0071、 图形测定装置
0164-0072、 利用球形探头的坐标测量装置
0161-0073、 千分表壳体及其制造方法
0015-0074、 用于测量长度和角度的方法及其设备
0030-0075、 激光粒度仪专用标准粒子样板制备方法
0046-0076、 利用衍射光学显现表面轮廓的方法和装置P style="LINE-HEIGHT: 150%"0008-0077、 一种测量金属熔液位移的方法及其装置
0119-0078、 一种纸厚动态测量技术
0173-0079、 小型、低成本的半导体仪器
0145-0080、 测定长度或角度的仪器
0081-0081、 包装薄片折缝位置检测的方法和装置
0004-0082、 尺寸测量法和用于实施该方法的标准样品
0013-0083、 具有位移检测装置的游标控制装置
0104-0084、 测量双折射层厚度的方法及其装置
0001-0085、 用以断续测量金属熔液上的渣层厚度的装置
0023-0086、 测量电缆导线在电缆包皮中位置的设备
0086-0087、 深度传感器
0130-0088、 螺纹部件的检测装置
0202-0089、 测量装置、测量装置用触头及测量方法
0057-0090、 纱线的测定装置
0205-0091、 千分尺
0154-0092、 雷射测定硬管管厚的控制方法
0061-0093、 光纤应变传感器及其制作方法
0146-0094、 汽车轴距差检测方法及装置
0142-0095、 用于电子显示纱线质量的系统和方法
0044-0096、 阀的行程测量与调整的方法P style="LINE-HEIGHT: 150%"0177-0097、 绝对式多码盘光电轴角编码器
0041-0098、 光学间隙测量装置和方法
0185-0099、 一种杠杆三维拨动式物位开关
0201-0100、 将测量头紧固于车轮轮辋的轴测试夹紧机构
0105-0101、 测量微结构深度的方法
0203-0102、 具有至少五个自由度的目标物的位置检测系统
0050-0103、 牵伸机，（尤其自调牵伸机）纱并条厚度测量装置
0019-0104、 容器尺寸参数的光学检验
0097-0105、 具有两步内插的内插脉冲发生装置
0085-0106、 利用人工视觉方法测量铁路车辆车轮滚动参数的装置和方法
0168-0107、 电动数显卷尺及电动电子计算器组合卷尺
0058-0108、 基于图像识别的运动物体测量方法
0150-0109、 移动物体检测用栅尺及用此栅尺进行移动物体检测的装置
0125-0110、 摄像测实际空间长度的方法和光学系统校正法及其基准规
0111-0111、 测量触针组件
0151-0112、 卧式罐直径的测量方法
0007-0113、 多功能数字显示式卷尺
0075-0114、 碳化铬复合陶瓷块规
0157-0115、 测量铁磁导电基体上的非铁磁导电层厚度的方法和装置
0114-0116、 改进的位置编码器 ，P style="LINE-HEIGHT: 150%"0144-0117、 位置传感器
0027-0118、 一种测量物体尺寸的方法及其设备
0005-0119、 激光测距方法
0132-0120、 全“位置数和”等分定位装置及方法
0139-0121、 应用小功率电感式位置传感器的电子卡尺
0064-0122、 媒体检测装置
0141-0123、 光学位置传感器
0163-0124、 利用光反射测量表面形貌的方法
0186-0125、 测量方法及测量装置
0152-0126、 搜集纸张使用数据的系统和方法
0071-0127、 孔轴混合零部件的测量装置及方法
0101-0128、 大直径轴盘类工件直径的测量方法及装置
0112-0129、 数字式游标卡尺介面电路
0098-0130、 采用现场可编程门阵列逻辑的容器检查系统
0127-0131、 设有能覆盖宽检测范围的光束发生器的位置传感器
0210-0132、 变应监测系统
0025-0133、 检测压水核反应堆内上部中导管之导向件的装置与方法
0063-0134、 图形测量装置
0181-0135、 经济型高精度内孔测量器
0022-0136、 一种测量位移量的光学细分干涉方法P style="LINE-HEIGHT: 150%"0021-0137、 目视检查辅助装置及基板检查装置以及使用这些装置的焊点检查方法及修正方法
0091-0138、 旋转编码器
0108-0139、 用于荫罩的椭圆激光探测器
0124-0140、 分相式高分辨率容栅位移传感器
0080-0141、 图形测量装置
0179-0142、 一种用于测量造纸机头箱(headbox)上的间距的方法及设备
0036-0143、 一种焊条偏心测试及其调节方法
0077-0144、 激光片光三维传感系统中降低散斑影响的方法和装置
0003-0145、 一种测量物件尺寸的方法和装置
0155-0146、 电荷耦合器直接细分光栅位移传感器及其实现方法
0162-0147、 高速动态偏心率检测设备和方法
0029-0148、 任意形状岩芯体积、表面积测量方法及装置
0149-0149、 电容性位置变换器中快速取样的方法和装置
0167-0150、 一种用于测量在板的内表面上的金属膜厚度的装置
0010-0151、 延伸的测量方法及非接触式激光延伸计
0192-0152、 位置检测系统和方法
0136-0153、 倾斜传感器以及采用它的测量仪
0184-0154、 自适应反馈控制下的磁场定位系统
0084-0155、 用于检测摄录机位移量的方法
0087-0156、 位移传感器 ，P style="LINE-HEIGHT: 150%"0187-0157、 求圆心用规尺
0017-0158、 组合式干涉仪和折射计
0070-0159、 薄膜厚度和折射率的成像检测法及其设备
0178-0160、 光学位移检测装置
0054-0161、 无透镜光学垂线坐标仪
0174-0162、 环形多层基岩变形测定装置
0067-0163、 红外探测装置和用其检测人体的方法
0137-0164、 具有原子分辨率的精密定位装置
0039-0165、 测量涂层厚度的装置
0140-0166、 用激光测量仪测量铸模或铸模配套件尺寸的方法
0182-0167、 静电电容式位移测量装置
0159-0168、 一种测量铁路车辆车轮偏置距的装置
0024-0169、 踏板行程检测装置
0165-0170、 千分表
0052-0171、 检验器件外观用的照明装置和使用该照明装置的器件外观自动检验装置
0189-0172、 具有0.01纳米分辨率的原子光栅测量方法
0038-0173、 磁感应式传感器全息动态特性测试方法
0062-0174、 大型工件内外径激光瞄准测量系统及测量方法
0043-0175、 用于测量手指粗细以确定指环大小的电动定径器
0094-0176、 检查结果输出装置和方法及基板检查系统和方法P style="LINE-HEIGHT: 150%"0147-0177、 坐标检测装置，其方法和游戏装置
0198-0178、 超声波发送机与接收机
0042-0179、 一种容器口部尺寸参数的光学检测
0055-0180、 一种横向前射光光纤几何参数和折射率分布测量方法
0092-0181、 卷尺尺面覆层的处理方法
0169-0182、 用以测量制造物体尺寸的设备和方法
0143-0183、 激光轴对中仪
0078-0184、 静电电容式游标卡尺
0090-0185、 利用平面镜偏转的能动目视装置
0191-0186、 利用码轨道型标尺和读出头的感应电流式绝对位置传感器
0011-0187、 软岩膨胀原位测试仪
0118-0188、 表面微结构检测系统及其检测方法
0129-0189、 计量点到设计曲面距离的方法
0100-0190、 一种曲面形状的测量方法
0193-0191、 激光双焦干涉球面轮廓仪
0183-0192、 人工智能测量及其编程方法
0176-0193、 光学头物镜倾斜度测量装置
0172-0194、 千分表转换机构
0190-0195、 一种高精度鉴相型容栅传感器的制作原理及方法
0128-0196、 感应位移传感器 ，P style="LINE-HEIGHT: 150%"0135-0197、 图形测定装置
0160-0198、 通用大直径测量规及其测量方法
0051-0199、 用激光测量仪测量铸模及相关部件的尺寸的方法
0123-0200、 “位置数和“等分定位方法及装置
0131-0201、 多用角规尺
0012-0202、 差动耦合平板电容器件
0158-0203、 三维测量装置和三维测量方法
0209-0204、 线行位移传感器的芯组及其制造方法
0117-0205、 手动三维坐标测量机
0066-0206、 叠层物品的检验设备
0095-0207、 阴极射线管电子枪电极平面度的测量装置
0072-0208、 用于旋转压印机中对齐控制装置的光电检测器
0020-0209、 探头位置测量装置
0121-0210、 组合式三坐标传感器及其使用方法
0079-0211、 间接坐标测量方法及装置
0212-0212、 俯仰角度测量系统
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摘要、 一种扫描装置其包括把两维光学图形投影到扫描物体表面（３５）上的器件（４０）和一个两维光电检测器（３４’），该扫描装置被装到手持扫描器件中，该扫描装置输出物体重叠表面区的三维坐标数据文件。通过计算机中的适当转动和平移，可以将由这些扫描文件确定的表面部分记录下来，所述的转动和平移是根据陀螺仪（５１）和加速度计（５０）的输出确定的，或是通过表面部分的数学处理例如共同特征的检测和定位来确定。
0028-0002、 确定物体的几何位置的方法和装置
摘要、 为了确定可移动体的几何位置、位移或角度，沿着至少一个方向具有较大的几何延伸部分的分压（分布）元件提供有交流电压，而一个电位测量探头根据所要检测的位移、角或位置而保持在不与分压（分布）元件相接触的一个距离上加以引导，从而使电位测量探头借助电容耦合并根据它所处的相对位置来检测交流电压幅度分布图的不同交流电压幅度，该电位测量探头与通过电容作用在耦合电极上的电势耦合探头相连接电 位测量探头检测的交流电压幅度值从该耦合电极传送以供测定。
0049-0003、 非接触测量透明材料制成的被测物厚度的设备 ，P style="LINE-HEIGHT: 150%"，本发明涉及非接触测量透明材料制成的被测物厚度的设备。从第一、第二光源射出的两束相对射线，经过带有反射和折射界面的透明材料体构成的第一、第二束分光器和一个转向器，斜射于被测物表面上。在被测物正反面上反射的第一、第二射束偶又经转向器和第一、第二分光器转向第一、第二探测器。为了使结构紧凑和实现高精度测量，第一、第二分光器由转向设备上朝向光源的光入射面构成。
0199-0004、 具有延伸成像深度的莫阿干涉测量系统和方法
摘要、 一种实现以延伸的图像观察深度获得全视场表面轮廓的莫阿干涉测量系统和方法。莫阿干涉测量系统包括一投影系统，它由光源、成像透镜和方波光栅图案构成。如此构成成像透镜来滤除通过方波光栅图案的较高级光线，从而在所需的表面上投射一类似于正弦波的图案。莫阿干涉测量系统还包括一观察系统，它由成像透镜、子光栅和摄像机构成。子光栅最好是可通过相应于基准表面记录光栅图案而生产的定制光栅。摄像机能观察延伸的图像深度内任何位置的图像并分析莫阿条纹。确定测试部件和基准表面之间的偏差提供了一种部件检测系统。
0170-0005、 物体高度测量设备
摘要、 物体高度测量设备有两个声光模块，用于以取决于调频的预定折射率折射从光发射器发射出来的光，从而使光沿物体的Ｘ轴和Ｙ轴被投射；同时还有分别与前面两个声光模块的信号同步的另外两个声光模块，从而使从物体反射的光聚焦在光接收装置上。物体高度的改变就依据聚焦在光接收装置上的光点的位置与光接收装置的中心之间的距离变化而被测量出来。
0200-0006、 拱坝三维变形全自动追迹监测方法
摘要、 拱坝三维变形全自动追迹监测方法：１．在各坝段上设被监测点测量各坝段上所设监测点相对该点位移；２．测量本平台相对上一个平台垂直激光束轴方向位移，同时向下一个平台发射激光测量光束；３．用自动安平技术保证相邻平台间在沿测量激光轴的铅垂面内无相对转动，用自动光电定向技术保证相邻平台间在水平面内无相对转动；４．设基准平台为０号，由矢量迭加法求出ｎ相对０的位移导出各坝段的位移。
0110-0007、 用以测量纤维条厚度和，或不匀率的装置
摘要、 本发明涉及一用以测量纤维条厚度和／或不匀率的装置它设有一纤维条的压缩部件和一测量部件，该测量部件具有一个压缩后纤维条用的沟槽形的引导通道和一个机械地探测纤维条并可相对引导通道调节的探测机构。探测机构在同纤维条接触的范围内同样被设计成沟槽形，并构成一个由固定部件和可调部件构成的引导通道，可调部件装在可偏转支架上，通过测量上述支架的调节量而可测量纤维条的厚度和／或不匀率。
0009-0008、 虚拟双测量仪断面轮廓测量系统
摘要、 一种用于测量由可改变带材运动方向的可逆式轧机加工的带材的断面轮廓的断面轮廓测量系统，包括：一测量带材厚度并产生厚度信号的单个厚度测量仪；一与该测量仪联接的推动装置用于可控制地沿带材横向推动测量仪，以便在带材一次经过测量仪时测量仪测量沿着一段带材横越带材宽度上不同点处的带材厚度，且在带材另一次经过测量仪时把测量仪保持在静止位置以便测量仪测量沿着所述的一段带材纵线上不同点处的带材厚度；一将不同点处的带材厚度测定值转换成断面轮廓数据的装置该转换装置与测量仪相连来接收厚度信号。
0006-0009、 位置检测环链码传感方法及编码条带
摘要、 提供一种检测转动圆轴角度位置、线性运动规则形状物体移动位置的直接数字式传感方法及关键部件一环链码编码条带。该方法是以一种新的位置信源编码—环链码为基础，以环链码编码条带和与之匹配的探测、激发及传感信号装置实现位置或位移检测的。用于位置检测的环链码条带其制作加工简单、安装使用方便，所形成的检测传感方法过程简捷、数据直接可靠、抗干扰性能好、数据便于远传、适用面宽、体积较小。
0073-0010、 一种实时测量运动体位移姿态角的装置
摘要、 一种实时测量运动物体位移和姿态角的装置包括一组或多组光源及光源驱动器、一组或多组测量单元和一个信息处理单元，其特点在于：测量单元由选择光束或光面的裁光板和光照位移传感器组成，利用光照位移传感器对透过裁光板的光照位移量进行测量，信息处理单元根据光照位移量求解不同的光面方程，算出光源在空间的相对坐标，进而求出运动物体三个方向的位移量和三个姿态角。本发明具有实时性好、测量范围大、测量精度高、抗干扰能力强和结构重量轻的优点。
0088-0011、 用于测量物体尺寸的装置和测量物体尺寸时用的度盘
0099-0012、 轴状部件的表面缺陷检查方法与装置
0065-0013、 电缆测距方法及设备
0166-0014、 热轧精轧卷取测宽仪抗干扰方法及装置
0074-0015、 二轴倾斜传感器
0196-0016、 双列圆锥滚子轴承轴向游隙测量方法P style="LINE-HEIGHT: 150%"0134-0017、 光纤耦合干涉式位移传感器
0116-0018、 用于检测显示图像的投影系统的投影角的装置
0068-0019、 卷尺的卷绕装置
0153-0020、 三维形状测量装置
0113-0021、 旋转斜细光束的薄透明层厚度的干涉测量方法及其装置
0076-0022、 利用大的等效波长测量物体表面轮廓的方法及系统
0133-0023、 工作台垂直位移测量装置
0175-0024、 汽车前轮定位主销后倾角测量仪
0103-0025、 图形测定装置
0102-0026、 大直径轴盘类工件直径的测量方法及装置
0048-0027、 一种用于绝对值位移传感器的编码盘(尺)设计方法
0207-0028、 绝对距离测量的波长扫描干涉系统及其信号处理方法
0106-0029、 物体观测设备和方法
0195-0030、 扫描器
0034-0031、 用于测量物体尺寸的装置和测量物体尺寸时用的度盘
0093-0032、 矩阵传感器及其制造方法
0018-0033、 非接触式三维轮廓实时测量方法和系统
0089-0034、 汽车电子控制的自动变速器的位移传感器
0032-0035、 一种凸轮轴综合参数检测仪
0047-0036、 非接触式铁路车轮试验装置及方法P style="LINE-HEIGHT: 150%"0156-0037、 用于动态负载连续监测的方法和装置
0109-0038、 感应电流位置传感器
0096-0039、 原位传感器件及其方法
0069-0040、 具有校正功能的图形测量装置
0148-0041、 光学式测定装置
0138-0042、 千分尺
0014-0043、 减少电容位置传感器对污染物敏感程度的电介质覆盖层
0107-0044、 胎纹深度测量装置
0204-0045、 测量位移的方法及位移传感器
0016-0046、 绝对位置检测装置及其误差补偿方法
0211-0047、 减少偏差的高精度感应电流位置传感器
0045-0048、 激光光盘式角位移传感器
0059-0049、 电容式位移测量装置
0126-0050、 电路板的识别装置和识别方法
0208-0051、 应变检测装置
0002-0052、 用于测量长度和角度的仪器
0040-0053、 比例刻度尺
0082-0054、 光栅位移测量装置
0060-0055、 光学膜厚测量方法、成膜方法和半导体激光器制造方法
0180-0056、 磁性编码器 ，P style="LINE-HEIGHT: 150%"0031-0057、 光学测量线卷的卷表面的方法
0115-0058、 双向全角度微机测量装置和方法
0188-0059、 内径测量卡尺
0056-0060、 扩缩比例尺
0033-0061、 带状量具
0083-0062、 长度测量器
0206-0063、 用于测定涂覆在感应式借方卡上的付款单元中的薄膜厚度和图形对正的装置和方法
0035-0064、 矿用窄轨车辆连接链拉伸变形量的测定方法
0037-0065、 用于借助电容检测来确定物体的相应几何位置的方法和装置
0026-0066、 测量透明材料厚度的方法和装置
0053-0067、 测量偏心转动件的方法和装置
0194-0068、 偏振光直线位移检测方法和传感器
0171-0069、 一种超长位移传感器
0197-0070、 用于表面检查的装置和方法
0120-0071、 图形测定装置
0164-0072、 利用球形探头的坐标测量装置
0161-0073、 千分表壳体及其制造方法
0015-0074、 用于测量长度和角度的方法及其设备
0030-0075、 激光粒度仪专用标准粒子样板制备方法
0046-0076、 利用衍射光学显现表面轮廓的方法和装置P style="LINE-HEIGHT: 150%"0008-0077、 一种测量金属熔液位移的方法及其装置
0119-0078、 一种纸厚动态测量技术
0173-0079、 小型、低成本的半导体仪器
0145-0080、 测定长度或角度的仪器
0081-0081、 包装薄片折缝位置检测的方法和装置
0004-0082、 尺寸测量法和用于实施该方法的标准样品
0013-0083、 具有位移检测装置的游标控制装置
0104-0084、 测量双折射层厚度的方法及其装置
0001-0085、 用以断续测量金属熔液上的渣层厚度的装置
0023-0086、 测量电缆导线在电缆包皮中位置的设备
0086-0087、 深度传感器
0130-0088、 螺纹部件的检测装置
0202-0089、 测量装置、测量装置用触头及测量方法
0057-0090、 纱线的测定装置
0205-0091、 千分尺
0154-0092、 雷射测定硬管管厚的控制方法
0061-0093、 光纤应变传感器及其制作方法
0146-0094、 汽车轴距差检测方法及装置
0142-0095、 用于电子显示纱线质量的系统和方法
0044-0096、 阀的行程测量与调整的方法P style="LINE-HEIGHT: 150%"0177-0097、 绝对式多码盘光电轴角编码器
0041-0098、 光学间隙测量装置和方法
0185-0099、 一种杠杆三维拨动式物位开关
0201-0100、 将测量头紧固于车轮轮辋的轴测试夹紧机构
0105-0101、 测量微结构深度的方法
0203-0102、 具有至少五个自由度的目标物的位置检测系统
0050-0103、 牵伸机，（尤其自调牵伸机）纱并条厚度测量装置
0019-0104、 容器尺寸参数的光学检验
0097-0105、 具有两步内插的内插脉冲发生装置
0085-0106、 利用人工视觉方法测量铁路车辆车轮滚动参数的装置和方法
0168-0107、 电动数显卷尺及电动电子计算器组合卷尺
0058-0108、 基于图像识别的运动物体测量方法
0150-0109、 移动物体检测用栅尺及用此栅尺进行移动物体检测的装置
0125-0110、 摄像测实际空间长度的方法和光学系统校正法及其基准规
0111-0111、 测量触针组件
0151-0112、 卧式罐直径的测量方法
0007-0113、 多功能数字显示式卷尺
0075-0114、 碳化铬复合陶瓷块规
0157-0115、 测量铁磁导电基体上的非铁磁导电层厚度的方法和装置
0114-0116、 改进的位置编码器 ，P style="LINE-HEIGHT: 150%"0144-0117、 位置传感器
0027-0118、 一种测量物体尺寸的方法及其设备
0005-0119、 激光测距方法
0132-0120、 全“位置数和”等分定位装置及方法
0139-0121、 应用小功率电感式位置传感器的电子卡尺
0064-0122、 媒体检测装置
0141-0123、 光学位置传感器
0163-0124、 利用光反射测量表面形貌的方法
0186-0125、 测量方法及测量装置
0152-0126、 搜集纸张使用数据的系统和方法
0071-0127、 孔轴混合零部件的测量装置及方法
0101-0128、 大直径轴盘类工件直径的测量方法及装置
0112-0129、 数字式游标卡尺介面电路
0098-0130、 采用现场可编程门阵列逻辑的容器检查系统
0127-0131、 设有能覆盖宽检测范围的光束发生器的位置传感器
0210-0132、 变应监测系统
0025-0133、 检测压水核反应堆内上部中导管之导向件的装置与方法
0063-0134、 图形测量装置
0181-0135、 经济型高精度内孔测量器
0022-0136、 一种测量位移量的光学细分干涉方法P style="LINE-HEIGHT: 150%"0021-0137、 目视检查辅助装置及基板检查装置以及使用这些装置的焊点检查方法及修正方法
0091-0138、 旋转编码器
0108-0139、 用于荫罩的椭圆激光探测器
0124-0140、 分相式高分辨率容栅位移传感器
0080-0141、 图形测量装置
0179-0142、 一种用于测量造纸机头箱(headbox)上的间距的方法及设备
0036-0143、 一种焊条偏心测试及其调节方法
0077-0144、 激光片光三维传感系统中降低散斑影响的方法和装置
0003-0145、 一种测量物件尺寸的方法和装置
0155-0146、 电荷耦合器直接细分光栅位移传感器及其实现方法
0162-0147、 高速动态偏心率检测设备和方法
0029-0148、 任意形状岩芯体积、表面积测量方法及装置
0149-0149、 电容性位置变换器中快速取样的方法和装置
0167-0150、 一种用于测量在板的内表面上的金属膜厚度的装置
0010-0151、 延伸的测量方法及非接触式激光延伸计
0192-0152、 位置检测系统和方法
0136-0153、 倾斜传感器以及采用它的测量仪
0184-0154、 自适应反馈控制下的磁场定位系统
0084-0155、 用于检测摄录机位移量的方法
0087-0156、 位移传感器 ，P style="LINE-HEIGHT: 150%"0187-0157、 求圆心用规尺
0017-0158、 组合式干涉仪和折射计
0070-0159、 薄膜厚度和折射率的成像检测法及其设备
0178-0160、 光学位移检测装置
0054-0161、 无透镜光学垂线坐标仪
0174-0162、 环形多层基岩变形测定装置
0067-0163、 红外探测装置和用其检测人体的方法
0137-0164、 具有原子分辨率的精密定位装置
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0140-0166、 用激光测量仪测量铸模或铸模配套件尺寸的方法
0182-0167、 静电电容式位移测量装置
0159-0168、 一种测量铁路车辆车轮偏置距的装置
0024-0169、 踏板行程检测装置
0165-0170、 千分表
0052-0171、 检验器件外观用的照明装置和使用该照明装置的器件外观自动检验装置
0189-0172、 具有0.01纳米分辨率的原子光栅测量方法
0038-0173、 磁感应式传感器全息动态特性测试方法
0062-0174、 大型工件内外径激光瞄准测量系统及测量方法
0043-0175、 用于测量手指粗细以确定指环大小的电动定径器
0094-0176、 检查结果输出装置和方法及基板检查系统和方法P style="LINE-HEIGHT: 150%"0147-0177、 坐标检测装置，其方法和游戏装置
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0169-0182、 用以测量制造物体尺寸的设备和方法
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0183-0192、 人工智能测量及其编程方法
0176-0193、 光学头物镜倾斜度测量装置
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0190-0195、 一种高精度鉴相型容栅传感器的制作原理及方法
0128-0196、 感应位移传感器 ，P style="LINE-HEIGHT: 150%"0135-0197、 图形测定装置
0160-0198、 通用大直径测量规及其测量方法
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0123-0200、 “位置数和“等分定位方法及装置
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0012-0202、 差动耦合平板电容器件
0158-0203、 三维测量装置和三维测量方法
0209-0204、 线行位移传感器的芯组及其制造方法
0117-0205、 手动三维坐标测量机
0066-0206、 叠层物品的检验设备
0095-0207、 阴极射线管电子枪电极平面度的测量装置
0072-0208、 用于旋转压印机中对齐控制装置的光电检测器
0020-0209、 探头位置测量装置
0121-0210、 组合式三坐标传感器及其使用方法
0079-0211、 间接坐标测量方法及装置
0212-0212、 俯仰角度测量系统
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