检测器、辐射检测器、检测器阵列、发光检测器及生产工艺技术
0079-0001、 氟化硼气体比例计数器和具有这种计数器的中子探测器
摘要、 为了通过降低包含在氟化硼气体中的氟分子的数目来延长氟化硼气体比例计数器单元的工作寿命，可以将填充到氟化硼气体比例计数器单元中的氟化硼气体的压力降低到２５０ｍｍＨｇ左右。为了补偿由气压下降引起的中子探测灵敏度的下降，可以将氟化硼气体比例计数器单元并联在一起，存放在组件箱中，使其构成一个氟化硼气体比例计数器。
0001-0002、 辐照显示薄膜剂量计及其制法
摘要、 本发明属于核辐射技术中剂量的监测，其内容包括一种用于60Coγ-射线辐照剂量监测的薄膜剂量计及其制法。该薄膜剂量计是由含氯共聚物和染料隐色体所组成。它对可见光不敏感，对60Coγ-射线具有相当敏感性，其主要成分含有与被照物质等效的C、H、O、N等元素。该薄膜剂量计结构简单、容易制造，可为农、工、医等各领域的现场使用提供一种灵敏、可靠、稳定、直观性强的监测显示手段。剂量监测显示范围为103-107rad。
0036-0003、 用于低剂量扫描束数字X-光成像系统的X-光探测器
本发明的一种扫描束Ｘ－光成像系统包括一个Ｘ－光管（１０），该Ｘ－光管包括一个电子束源（１６１）和一个阳极靶（５０）。有一电路用于将束（１６４）聚焦，并在阳极靶（５０）上按预定的图案，如螺旋扫描图案用束（２０、３０）进行扫描。在Ｘ－光源（５０）与被用Ｘ－光检测的物体（８０）之间设置了准直元件（９０），其可取的是为包含一个孔的阵列的多孔光栅的形式。孔（１４０）都是定向的，以使Ｘ－光束（１００）被汇聚到位于与准直元件（９０）选定距离的一个平面（２７０）处的一个探测器阵列（１１０）。这个距离是经过选择的，以使被Ｘ－光检测的物体可以放置在准直元件（９０）和探测器阵列（１１０）之间，分区Ｘ－光探测器阵列（１１０）包括由位于探测平面（２７０）中的探测器单元（１７０）构成的方形阵列。在距Ｘ－光源（５０）特定的，经选择的距离处可生成一个能够具有最佳直媛实慕蛊矫妫ǎ玻福埃
0017-0004、 电离辐射的剂量测定法
摘要、 电离辐射的剂量测定法在于，首先用标准电离辐射来照射聚乙烯试样，然后加热，使之变形并在保持变形状态的情况下予以冷却。继而用所需测量的电离辐射来照射聚乙烯试样，加热到聚乙烯熔点以上，在这种情况下，由于试样热收缩而发生变形，随后测量变形后的试样尺寸，根据这个尺寸来判定试样吸收的电离辐射剂量。
0150-0005、 电子束检测器、扫描型电子显微镜、质量分析装置及离子检测器
摘要、 在电子束检测器中，通过光波导将化合物半导体基片的荧光出射表面与光检测器的光入射面光学耦合，并将化合物半导体基片与光检测器物理连接，从而将化合物半导体基片与光检测器连为一体。将入射到化合物半导体基片的电子变换为荧光时，光波导将该荧光导向光检测器，通过光检测器检测荧光来检测入射的电子束。
0099-0006、 闪烁器仪表盘、放射线图象传感器及其制造方法
摘要、 在闪烁器仪表盘（2）的Al制基板（10）的一个表面，形成了将入射的放射线转变为可见光的柱状结构的闪烁器（12）。基板（10）与闪烁器（12）整个面被第1聚对*膜（14）覆盖，在闪烁器（12）一侧的聚对*膜（14）的表面形成，膜（16）。而且，在，膜（16）表面以及基板（10）一侧的聚对*膜（14）表面形成第2聚对*膜（18），整个面被第2聚对*膜（18）覆盖。
0009-0007、 杆状固体闪烁器的反光被覆层
摘要、 一种用于被覆在杆状闪烁检测器外面的多层膜包括一含有一定百分数的光漫射物质的压胶粘层，此胶粘层用来粘贴在杆的外表面。一透明塑料层把胶粘层与镜面反光层隔开。在此镜面反光层的顶部设置有一保护层。光漫射物质和镜面反光层一起把光留驻在杆内，把光导至杆内的随机方向并阻止相邻杆之间光的相互干扰。由一单片多层膜构成的一个预制件可用来被覆杆的五个表面。
0119-0008、 用P化合物粘合的CaSO4基热发光检测器及其制备方...
摘要、 本发明公开的是用亚磷化合物粘合的CaSO，4，基TL检测器及其制备方法。CaSO，4，基TL检测器是这样制备的：将CaSO，4，基TL粉末与亚磷化合物的前体混合；将混合物粉末在压力下模塑成型；和烧结该成型体。该TL检测器具有高的TL敏感性，以致于可有效地测量个人剂量当量和低剂量测量。它还能够制成多种形状，易于加工，在个人和环境监控领域发现多种应用。
0151-0009、 闪烁器板及射线图象传感器
摘要、 在射线能穿透的衬底(10)一方的表面上，以中间膜(11)为中介，配置反射规定波长光的金属薄膜(12)，设置覆盖金属薄膜(12)的保护膜(14)。在该保护膜(14)上，堆积闪烁器(16)，它将射线变换成包括能用金属薄膜(12)反射的波长在内的光，保护膜(14)阻止金属薄膜(12)和闪烁器(16)接触。闪烁器(16)还用耐潮保护膜(18)覆盖。
0011-0010、 放射线检测装置
摘要、 本发明涉及放射线检测装置。该装置包括排列在放射线检测面上的许多闪烁器，与这许多闪烁器分别对应配置的光电转换元件，以及由测量这许多光电转换元件的输出信号的许多电子电路集合而成的许多集成电路。按照本发明能获得具有高分辨能力的、高灵敏度的照相装置。
0157-0011、 一种辐射成像固体探测器
0035-0012、 一体化的低水平测量α、β闪烁体及其热压制备工艺
086-0013、 闪烁器面板及放射线图象传感器
0100-0014、 放射线图象传感器
0123-0015、 用于放射照相术的方法和设备以及放射检测器
0127-0016、 放射线探测器
0155-0017、 小面积像素电极直接平板X－线探测器
0068-0018、 放射线检测元件及其制造方法
053-0019、 用于双头伽马照相机的分辨率增强
0141-0020、 测量不同材料界面剂量分布的多层平板电离室
0146-0021、 电子直线加速器射线扫描特性的测量方法和装置
088-0022、 放射性比活度测定方法及装置
107-0023、 带有固体转换器的X射线探测器单元
0008-0024、 阴极，转换器
0033-0025、 具有直接转换功能的Ｘ射线探测器元件
0002-0026、 电子束和β射线两用外推电离室
0096-0027、 薄窗正比管探测器的制作方法
081-0028、 用于放射性物质分析的自闪烁片材
0083-0029、 放射线检测装置、闪烁体及放射线鉴别方法
076-0030、 射线探测器
0094-0031、 一种组合式嘎玛射线探测仪
0049-0032、 一种可用于断层扫描设备的光电探测装置
067-0033、 多片层限制投影角度正电子发射断层照相术
092-0034、 用于CT的两维X射线探测器阵列
0140-0035、 光电二极管同步辐射X光束线探测方法
062-0036、 衣物处理监控装置
060-0037、 成象装置
113-0038、 平板X射线检测器
0078-0039、 非对称辐射探测系统
0090-0040、 有机膜蒸渡方法
059-0041、 增强的放射自显影
0139-0042、 射线检测仪、其制造方法和射线CT装置
066-0043、 超低本底的多光子探测器
0006-0044、 电离辐射剂量计
0159-0045、 闪烁体面板
105-0046、 闪烁器面板和放射线图象传感器
0063-0047、 尘埃辐射线监控装置及其所使用的尘埃取样装置
130-0048、 辐射探测器、一种用于射线照相中的装置和一种探测电离辐射的方法
103-0049、 信号操控及处理系统
0070-0050、 对核辐射进行实时快速测量用的数据处理与传输系统
0116-0051、 使用包括校准源的光电倍增器测量发光强度的装置与方法
145-0052、 P沟道场效应晶体管剂量仪
0093-0053、 闪烁体面板和射线图象传感器
0089-0054、 数字放射线图像器
0046-0055、 核谱学系统中用于调整和甄别脉冲形状的方法
047-0056、 剂量场分布成象测量方法及装置
136-0057、 辐射检测设备和方法
005-0058、 放射线检测器
0039-0059、 自扫描式大型物体辐射检测系统
0129-0060、 放射线图像传感器及闪烁器板
114-0061、 非线性修正扩展电离室量程范围的方法
043-0062、 用于调整辐射探测器的系统和方法
124-0063、 放射线检测装置
020-0064、 放射性个人剂量笔
0051-0065、 检测与鉴别裂变材料的方法与装置
021-0066、 γ能谱法测定平衡参数及装置
014-0067、 测量低能β射线用的自动效率示踪法
153-0068、 一种用于X射线源剂量率监控的穿透电离室
0045-0069、 X射线CT固态探测器
0037-0070、 油井产量的测量方法
111-0071、 空间碘化钠晶体探测器减振装置
057-0072、 放射线检测元件及其制造方法
095-0073、 一种嘎玛射线探测仪的波形甄别方法
112-0074、 单光子发射计算机处理的X射线断层摄影术系统
0101-0075、 闪烁体面板、放射线图象传感器及其制造方法
135-0076、 对电离辐射进行检测的检测装置及方法
026-0077、 辐射探测器
0028-0078、 金刚石辐射检测器元件
0098-0079、 二维阵列型放射线检测器
0104-0080、 辐射探测器和一种用在射线照相中的设备
0132-0081、 离子辐射的光谱分辨检测
0040-0082、 辐射探测器
0144-0083、 射线探测设备和方法
071-0084、 无胶片光子成象装置
122-0085、 射线照相的方法与装置和辐射检测器
0056-0086、 医学成象系统中多形态数据的互补重合
0075-0087、 用于探测和指示非离子化电磁幅射和静电的装置
143-0088、 PET装置
010-0089、 光电信增管放大倍数的稳定装置
133-0090、 PET装置及PET装置的图像生成方法
065-0091、 检测离子束内中性粒子的系统和方法
050-0092、 半导体伽马射线摄像机和医学成像系统
0052-0093、 具有增强的电荷搜集功能的半导体辐射探测器
0044-0094、 辐射探测系统及其制作方法
069-0095、 γ-射线补偿型中子电离箱
0022-0096、 闪烁谱仪谱分区存储方法
003-0097、 半导体辐射检测器
0024-0098、 高效αβ探测器
0120-0099、 单个粒子辐照装置用新型前探测方法
032-0100、 二氧化铀芯块铀-235丰度在线无损检查方法
156-0101、 放射线检测元件及其制造方法
041-0102、 放射性乳腺X射线透视专用设备和方法
055-0103、 用于医疗测象系统的不间断供电电源
0072-0104、 用于X线检测器阵列的X线吸收、光反射介质
0031-0105、 环境γ辐射监测探头温度补偿方法
121-0106、 将散射光栅安设在X射线探测器上的方法
038-0107、 光电二极管阵列
0091-0108、 闪烁体面板和放射线图象传感器
0030-0109、 二维辐射探测器
0019-0110、 测量具有随机特征的脉冲式的或可转换成脉冲式的物理量的方法及其在γ光谱测定...
0149-0111、 辐射检测以及正电子发射断层扫描
0061-0112、 天然电磁辐射技术的方法及其装置
018-0113、 辐射检测器
0154-0114、 一种辐射成像固体探测器模块结构
0034-0115、 用于Ｘ射线的气体检测器
0082-0116、 用来测量辐射的一种设备和一种方法
015-0117、 新型闪烁探测器温控自动稳定系统
0016-0118、 高分辨率定位中性粒子的方法和仪器
0137-0119、 具有高计数率的伽马照相机系统
0108-0120、 探测电离辐射的方法、辐射探测器及用在平面束射线照相中的设备
0023-0121、 介质表面氡析出率测量方法及测量仪
0102-0122、 光学元件及用它的射线检测器
0131-0123、 能量液测定仪
0012-0124、 具有由阵列射线传感器构成的图象接收平面的低噪声射线图象探测系统
0118-0125、 放射线探测器
0007-0126、 电离辐射剂量计
0128-0127、 放射线图像传感器及闪烁器板
142-0128、 放射成象装置、放射成象方法和放射成象支持方法
073-0129、 一种高集成化低能量X射线阵列传感装置
027-0130、 克服核燃料二氧化铀年龄对其铀-235丰度在线检查影响的方法
013-0131、 大剂量范围的LiF晶片剂量计
0152-0132、 调整偏移分量的射线探测器
0074-0133、 辐射检测设备
0058-0134、 辐射检测装置和辐射检测方法
117-0135、 多丝高气压正比计数管的性能调试方法
029-0136、 小型γ射线剂量仪
0109-0137、 辐射探测器和一种用在平面束射线照相中的设备
0125-0138、 月球探测的特殊伽玛谱仪
0106-0139、 光学元件、射线图像传感器及光学元件的制造方法
138-0140、 闪烁器面板、放射线图象传感器和它们的制造方法
148-0141、 高计数率的单光子检测器
0048-0142、 高能电子探测器
0097-0143、 开关矩阵直读式非晶硒平板固态探测器及其设备
0087-0144、 光敏阵列电子传感器
0134-0145、 PET系统
0158-0146、 能量测定方法及测定装置
126-0147、 金刚石辐射检测仪
0077-0148、 闪烁材料和闪烁波导元件
0110-0149、 辐射探测器、用在平面束射线照相中的设备及检测电离辐射的方法
025-0150、 用于对中子进行检测和二维定位的装置
080-0151、 分段电极辐射探测器
0147-0152、 核医学诊断装置的放射线检测装置及其检测方法
085-0153、 辐射探测器件
0064-0154、 地球等微子监测仪
0004-0155、 X-射线扫描仪
0054-0156、 液体界面闪烁摄影机
0084-0157、 用于数控减影血管造影术的设备
0042-0158、 检查热中子吸收器壁的系统、装置和方法
115-0159、 液晶用作放射线辐射场的显像方法
160-0160、 有源矩阵基板及电磁波检测器
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摘要、 为了通过降低包含在氟化硼气体中的氟分子的数目来延长氟化硼气体比例计数器单元的工作寿命，可以将填充到氟化硼气体比例计数器单元中的氟化硼气体的压力降低到２５０ｍｍＨｇ左右。为了补偿由气压下降引起的中子探测灵敏度的下降，可以将氟化硼气体比例计数器单元并联在一起，存放在组件箱中，使其构成一个氟化硼气体比例计数器。
0001-0002、 辐照显示薄膜剂量计及其制法
摘要、 本发明属于核辐射技术中剂量的监测，其内容包括一种用于60Coγ-射线辐照剂量监测的薄膜剂量计及其制法。该薄膜剂量计是由含氯共聚物和染料隐色体所组成。它对可见光不敏感，对60Coγ-射线具有相当敏感性，其主要成分含有与被照物质等效的C、H、O、N等元素。该薄膜剂量计结构简单、容易制造，可为农、工、医等各领域的现场使用提供一种灵敏、可靠、稳定、直观性强的监测显示手段。剂量监测显示范围为103-107rad。
0036-0003、 用于低剂量扫描束数字X-光成像系统的X-光探测器
本发明的一种扫描束Ｘ－光成像系统包括一个Ｘ－光管（１０），该Ｘ－光管包括一个电子束源（１６１）和一个阳极靶（５０）。有一电路用于将束（１６４）聚焦，并在阳极靶（５０）上按预定的图案，如螺旋扫描图案用束（２０、３０）进行扫描。在Ｘ－光源（５０）与被用Ｘ－光检测的物体（８０）之间设置了准直元件（９０），其可取的是为包含一个孔的阵列的多孔光栅的形式。孔（１４０）都是定向的，以使Ｘ－光束（１００）被汇聚到位于与准直元件（９０）选定距离的一个平面（２７０）处的一个探测器阵列（１１０）。这个距离是经过选择的，以使被Ｘ－光检测的物体可以放置在准直元件（９０）和探测器阵列（１１０）之间，分区Ｘ－光探测器阵列（１１０）包括由位于探测平面（２７０）中的探测器单元（１７０）构成的方形阵列。在距Ｘ－光源（５０）特定的，经选择的距离处可生成一个能够具有最佳直媛实慕蛊矫妫ǎ玻福埃
0017-0004、 电离辐射的剂量测定法
摘要、 电离辐射的剂量测定法在于，首先用标准电离辐射来照射聚乙烯试样，然后加热，使之变形并在保持变形状态的情况下予以冷却。继而用所需测量的电离辐射来照射聚乙烯试样，加热到聚乙烯熔点以上，在这种情况下，由于试样热收缩而发生变形，随后测量变形后的试样尺寸，根据这个尺寸来判定试样吸收的电离辐射剂量。
0150-0005、 电子束检测器、扫描型电子显微镜、质量分析装置及离子检测器
摘要、 在电子束检测器中，通过光波导将化合物半导体基片的荧光出射表面与光检测器的光入射面光学耦合，并将化合物半导体基片与光检测器物理连接，从而将化合物半导体基片与光检测器连为一体。将入射到化合物半导体基片的电子变换为荧光时，光波导将该荧光导向光检测器，通过光检测器检测荧光来检测入射的电子束。
0099-0006、 闪烁器仪表盘、放射线图象传感器及其制造方法
摘要、 在闪烁器仪表盘（2）的Al制基板（10）的一个表面，形成了将入射的放射线转变为可见光的柱状结构的闪烁器（12）。基板（10）与闪烁器（12）整个面被第1聚对*膜（14）覆盖，在闪烁器（12）一侧的聚对*膜（14）的表面形成，膜（16）。而且，在，膜（16）表面以及基板（10）一侧的聚对*膜（14）表面形成第2聚对*膜（18），整个面被第2聚对*膜（18）覆盖。
0009-0007、 杆状固体闪烁器的反光被覆层
摘要、 一种用于被覆在杆状闪烁检测器外面的多层膜包括一含有一定百分数的光漫射物质的压胶粘层，此胶粘层用来粘贴在杆的外表面。一透明塑料层把胶粘层与镜面反光层隔开。在此镜面反光层的顶部设置有一保护层。光漫射物质和镜面反光层一起把光留驻在杆内，把光导至杆内的随机方向并阻止相邻杆之间光的相互干扰。由一单片多层膜构成的一个预制件可用来被覆杆的五个表面。
0119-0008、 用P化合物粘合的CaSO4基热发光检测器及其制备方...
摘要、 本发明公开的是用亚磷化合物粘合的CaSO，4，基TL检测器及其制备方法。CaSO，4，基TL检测器是这样制备的：将CaSO，4，基TL粉末与亚磷化合物的前体混合；将混合物粉末在压力下模塑成型；和烧结该成型体。该TL检测器具有高的TL敏感性，以致于可有效地测量个人剂量当量和低剂量测量。它还能够制成多种形状，易于加工，在个人和环境监控领域发现多种应用。
0151-0009、 闪烁器板及射线图象传感器
摘要、 在射线能穿透的衬底(10)一方的表面上，以中间膜(11)为中介，配置反射规定波长光的金属薄膜(12)，设置覆盖金属薄膜(12)的保护膜(14)。在该保护膜(14)上，堆积闪烁器(16)，它将射线变换成包括能用金属薄膜(12)反射的波长在内的光，保护膜(14)阻止金属薄膜(12)和闪烁器(16)接触。闪烁器(16)还用耐潮保护膜(18)覆盖。
0011-0010、 放射线检测装置
摘要、 本发明涉及放射线检测装置。该装置包括排列在放射线检测面上的许多闪烁器，与这许多闪烁器分别对应配置的光电转换元件，以及由测量这许多光电转换元件的输出信号的许多电子电路集合而成的许多集成电路。按照本发明能获得具有高分辨能力的、高灵敏度的照相装置。
0157-0011、 一种辐射成像固体探测器
0035-0012、 一体化的低水平测量α、β闪烁体及其热压制备工艺
086-0013、 闪烁器面板及放射线图象传感器
0100-0014、 放射线图象传感器
0123-0015、 用于放射照相术的方法和设备以及放射检测器
0127-0016、 放射线探测器
0155-0017、 小面积像素电极直接平板X－线探测器
0068-0018、 放射线检测元件及其制造方法
053-0019、 用于双头伽马照相机的分辨率增强
0141-0020、 测量不同材料界面剂量分布的多层平板电离室
0146-0021、 电子直线加速器射线扫描特性的测量方法和装置
088-0022、 放射性比活度测定方法及装置
107-0023、 带有固体转换器的X射线探测器单元
0008-0024、 阴极，转换器
0033-0025、 具有直接转换功能的Ｘ射线探测器元件
0002-0026、 电子束和β射线两用外推电离室
0096-0027、 薄窗正比管探测器的制作方法
081-0028、 用于放射性物质分析的自闪烁片材
0083-0029、 放射线检测装置、闪烁体及放射线鉴别方法
076-0030、 射线探测器
0094-0031、 一种组合式嘎玛射线探测仪
0049-0032、 一种可用于断层扫描设备的光电探测装置
067-0033、 多片层限制投影角度正电子发射断层照相术
092-0034、 用于CT的两维X射线探测器阵列
0140-0035、 光电二极管同步辐射X光束线探测方法
062-0036、 衣物处理监控装置
060-0037、 成象装置
113-0038、 平板X射线检测器
0078-0039、 非对称辐射探测系统
0090-0040、 有机膜蒸渡方法
059-0041、 增强的放射自显影
0139-0042、 射线检测仪、其制造方法和射线CT装置
066-0043、 超低本底的多光子探测器
0006-0044、 电离辐射剂量计
0159-0045、 闪烁体面板
105-0046、 闪烁器面板和放射线图象传感器
0063-0047、 尘埃辐射线监控装置及其所使用的尘埃取样装置
130-0048、 辐射探测器、一种用于射线照相中的装置和一种探测电离辐射的方法
103-0049、 信号操控及处理系统
0070-0050、 对核辐射进行实时快速测量用的数据处理与传输系统
0116-0051、 使用包括校准源的光电倍增器测量发光强度的装置与方法
145-0052、 P沟道场效应晶体管剂量仪
0093-0053、 闪烁体面板和射线图象传感器
0089-0054、 数字放射线图像器
0046-0055、 核谱学系统中用于调整和甄别脉冲形状的方法
047-0056、 剂量场分布成象测量方法及装置
136-0057、 辐射检测设备和方法
005-0058、 放射线检测器
0039-0059、 自扫描式大型物体辐射检测系统
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